Перейти до головного вмісту
Українська (uk)
Русский (ru)
Українська (uk)
Deutsch (de_old)
English (de)
English (en)
Español - Internacional (es)
Français (fr)
Italiano (it)
Polski (pl)
Вхід
Електронна та іонна ...
Пошук курсів
Курси
Факультети, кафедри
Математичний факультет
Кафедра загальної та прикладної фізики
Електронна та іонна спектроскопія твердих тіл та н...
Розділ 1. Методи електронної спектроскопії
Лекція 2. Тунельна та силова скануюча мікроскопія
Лекція 2. Тунельна та силова скануюча мікроскопія
Клацніть
СТМ_АСМ.pdf
для перегляду файлу
Попередня секція
Лекція 1. Дифракція електронів та атомна структура поверхні
Наступна секція
Лекція 3. Оже- та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Перейти до...
Перейти до...
Форум новин
Анотація
Робоча програма_spectroscopy_2018
Критерії оцінювання та система накопичення балів
Литература
Підручник
Огляд процесів, що відбуваються при бомбардуванні поверхні зарядженими частинками
Лекція 1. Дифракція електронів та атомна структура поверхні
Лекція 3. Оже- та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Лекція 1. Теоретичні основи методів іонної спектроскопії
Лекція 2. Спектроскопія розсіювання повільних іонів
Завдання до заліку
Нормоконтроль
Дидактичне забезпечення самостійної роботи
Методичне забезпечення виконання практичних завдань
Test
Питання до заліку