Метою викладання дисципліни «Діагностика, контроль та випробування мікроелектронних пристроїв» є надання знань про основні критерії надійності напівпровідників та інтегральних мікросхем, методи, обладнання для вимірювання і контролю напівпровідників та ІМС.
Завданням дисципліни є ознайомлення студентів з методами діагностики та контролю параметрів напівпровідників та ІМС.
У результаті вивчення навчальної дисципліни студент повинен
знати:
• параметри мікроелектронних пристроїв та механізми їх контролю;
• обладнання і методи контролю параметрів ІМС;
• механізми відмов ІМС;
• показники надійності напівпровідникових приладів та ІМС;
• технічні засоби систем автоматичного вимірювання та контролю параметрів ІМС.
вміти:
• володіти технікою вирішення практичних завдань в галузі електроніка і мікроелектроніка, розрахувати показники надійності;
• обґрунтовувати отримані результати.
Завданням дисципліни є ознайомлення студентів з методами діагностики та контролю параметрів напівпровідників та ІМС.
У результаті вивчення навчальної дисципліни студент повинен
знати:
• параметри мікроелектронних пристроїв та механізми їх контролю;
• обладнання і методи контролю параметрів ІМС;
• механізми відмов ІМС;
• показники надійності напівпровідникових приладів та ІМС;
• технічні засоби систем автоматичного вимірювання та контролю параметрів ІМС.
вміти:
• володіти технікою вирішення практичних завдань в галузі електроніка і мікроелектроніка, розрахувати показники надійності;
• обґрунтовувати отримані результати.
- Викладач: Небеснюк Оксана Юріївна
- Асистент із правами викладача: Ніконова Зоя Андріївна
Кредити: 3
Семестр: 224