Метою викладання дисципліни
є надання знань про причини
відмов мікроелектронних пристроїв, основні критерії їх надійності та сучасні
технічні засоби систем автоматичного вимірювання та контролю основних
параметрів пристроїв мікроелектроніки.Тема 1. Контроль і види контролю параметрів мікроелектронних пристроїв.
Тема 2. Механізми раптових та поступових відмов.
Тема 3. Основні поняття надійності. Відмова, безвідмовність.
Лабораторна робота №1Вимірювання поверхневого і питомого опору шарів напівпровідника
Практична робота №1Визначення типу електропровідності напівпровідникових кристалів і пластин
Тема 4.Якісні показники надійності.
Тема 5. Система контролю якості
Тема 6. Види випробувань. Випробування мікроелектронних пристроїв при виготовленні та випробування готової продукції.
Лабораторна робота №2 Випробування мікросхем за категорією П4
Практична робота №2 Надійність. Розрахунок основних показників надійності
Тема 7. Вимірювання статичних параметрів.
Тема 8. Вимірювання динамічних параметрів.
Тема 9. Функціональний контроль.
Лабораторна робота №3 Вимірювання статичних параметрів мікроелектронних пристроїв
Практична робота №3 Вимірювання статичних, динамічних параметрів та функціональний контроль
Тема 10. Структура та шляхи збільшення продуктивності автоматичного устаткування контролю.
Тема 12. Вимірювання статичних, динамічних параметрів та функціональний контроль сучасних мікроелектронних пристроїв.
Лабораторна робота №4 Дослідження статичних параметрів логічних мікросхем ТТЛ та КМОН
Практична робота №4 Сучасні методи та устаткування для діагностики та контроля параметрів мікроелектронних пристроїв