Перейти к основному содержанию
Боковая панель
Поиск курса
Закрыть
Поиск курса
Изменить данные поисковой строки
Вход
Мікроелектронні пристрої
Поиск курса
Закрыть
Поиск курса
Изменить данные поисковой строки
Вибір дисциплін
Свернуть
Развернуть
Вибір дисциплін
Свернуть
Развернуть
Обрати дисципліни
Статистика вибору дисциплін ВМУ
Открыть оглавление курса
Открыть боковую панель
Курсы
Факультети, кафедри
Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю.М. По...
Кафедра електроніки, інформаційних систем та прогр...
Мікроелектронні пристрої
Змістовий модуль 3 - «Плівкові та гібридні інтегр...
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметр...
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметрів ІМС
Требуемые условия завершения
Нажмите на ссылку
Лабораторна робота 4.pdf
, чтобы просмотреть файл.
Предыдущий акт. элемент
Лекції
Следующий акт. элемент
Практична робота № 3
Перейти к активному элементу
Перейти к активному элементу
Силабус
Відомості про автора курсу
Презентація навчальної дисципліни
Опис навчальної дисципліни
Система накопичення балів
Інформаційні ресурси
Посібник
Методичні вказівки для лабораторного практикуму
Методичні вказівки для самостійної роботи студентів
Форум
Новини
Лекції
Технологія виробництва інтегральних мікросхем на підприємствах Intel
What is a Schottky Diode?
Лекції
Практична робота №1 Класифікація інтегральних мікросхем та система умовних позначень
Результати вимірювання
№1
№2
№3
№4
Практична робота №1
Завдання до підсумкового контролю №1
Підсумковий контроль №1
Вхідний контроль
Лекції
Практична робота №2 Фізичні основи мікроелектронних пристроїв
Практична робота №2
Завдання до підсумкового контролю №2
Підсумковий контроль №2
Лекції
Практична робота № 3
Завдання до підсумкового контролю №3
Підсумковий контроль №3
Лекції
Практична робота №4 Дослідження статичних параметрів логічних мікросхем ТТЛ і КМОН
Практична робота №4
Завдання до підсумкового контролю №4
Підсумковий контроль №4
Питання підсумкового контролю знань
Підсумковий контроль