Zum Hauptinhalt
Deutsch (de_old)
Русский (ru)
Українська (uk)
Deutsch (de_old)
English (de)
English (en)
Español - Internacional (es)
Français (fr)
Italiano (it)
Polski (pl)
Log In
Мікроелектронні прис ...
Kurse suchen
Kurse
Факультети, кафедри
Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю.М. По...
Кафедра електроніки, інформаційних систем та прогр...
Мікроелектронні пристрої
Змістовий модуль 3 - «Плівкові та гібридні інтегр...
Лекції
Лекції
Klicken Sie auf den Link '
Лекції 4.pdf
', um die Datei anzuzeigen
Previous Activity
Проміжний контроль №2
Next Activity
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметрів ІМС
Direkt zu:
Direkt zu:
Силабус
Відомості про автора курсу
Презентація навчальної дисципліни
Опис навчальної дисципліни
Система накопичення балів
Інформаційні ресурси
Посібник
Методичні вказівки для лабораторного практикуму
Методичні вказівки для самостійної роботи студентів
Форум
Новини
Лекції
Технологія виробництва інтегральних мікросхем на підприємствах Intel
What is a Schottky Diode?
Лекції
Практична робота №1 Класифікація інтегральних мікросхем та система умовних позначень
Результати вимірювання
№1
№2
№3
№4
Практична робота №1
Питання до проміжного контролю №1
Проміжний контроль №1
Лекції
Практична робота №2 Фізичні основи мікроелектронних пристроїв
Практична робота №2
Проміжний контроль №2
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметрів ІМС
Практична робота № 3
Проміжний контроль №3
Лекції
Практична робота №4 Дослідження статичних параметрів логічних мікросхем ТТЛ і КМОН
Практична робота №4
Проміжний контроль №4
Питання підсумкового контролю знань
Залік