Vai al contenuto principale
Pannello laterale
Course search
Chiudi
Course search
Attiva/disattiva input di ricerca
Italiano (it)
Русский (ru)
Українська (uk)
Deutsch (de_old)
English (de)
English (en)
Español - Internacional (es)
Français (fr)
Italiano (it)
Polski (pl)
Login
Сучасні методи дослідження матеріалів
Course search
Chiudi
Course search
Attiva/disattiva input di ricerca
Вибір дисциплін
Minimizza
Espandi
Вибір дисциплін
Minimizza
Espandi
Обрати дисципліни
Статистика вибору дисциплін ВМУ
Результати вибору дисциплін
Apri indice del corso
Apri il cassetto del blocco
Home
Corsi
Факультети, кафедри
Математичний факультет
Кафедра загальної та прикладної фізики
Сучасні методи дослідження матеріалів
Методичні матеріали
Скануюча тунельна мікроскопія
Скануюча тунельна мікроскопія
Aggregazione dei criteri
Per visualizzare il file, fai click su questo link:
Скануюча тунельна мікроскопія.pptx
Attività precedente
Дифракція електронів. Структура поверхні
Attività successiva
Вимірювання відностної інтенсивнасті спектральних ліній
Vai a...
Vai a...
Новини
Силабус навчальної дисципліни
В. В. ХОЛЯВКО, І. А. ВЛАДИМИРСЬКИЙ, О. О. ЖАБИНСЬКА. ФІЗИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТА МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕННЯ МАТЕРІАЛІВ
Система накопичення балів
Тест 1
Тест 2
Тест 3
Тест 4
Тест 5
Тест 6
Будова металів і сплавів
Дефекти кристалічної структури
Вивчення фотоелементів з внутрішнім фотоефектом
Газовий лазер
Дифракція електронів. Структура поверхні
Вимірювання відностної інтенсивнасті спектральних ліній
Якісний аналіз сталей
Підсумковий тест
Питання до іспиту