Passer au contenu principal
Panneau latéral
Recherche de cours
Fermer
Recherche de cours
Activer/désactiver la saisie de recherche
Connexion
Мікроелектронні пристрої
Recherche de cours
Fermer
Recherche de cours
Activer/désactiver la saisie de recherche
Вибір дисциплін
Replier
Déplier
Вибір дисциплін
Replier
Déplier
Обрати дисципліни
Статистика вибору дисциплін ВМУ
Ouvrir l’index du cours
Ouvrir le tiroir des blocs
Cours
Факультети, кафедри
Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю.М. По...
Кафедра електроніки, інформаційних систем та прогр...
Мікроелектронні пристрої
Змістовий модуль 1 – «Еволюція мікроелектронних пр...
Вхідний контроль
Вхідний контроль
Conditions d’achèvement
Ouvert le :
mardi 9 septembre 2025, 00:00
À rendre :
mardi 16 septembre 2025, 00:00
https://naurok.com.ua/test/start/1117016
Activité précédente
Підсумковий контроль №1
Activité suivante
Лекції
Aller vers l’activité
Aller vers l’activité
Силабус
Відомості про автора курсу
Презентація навчальної дисципліни
Опис навчальної дисципліни
Система накопичення балів
Інформаційні ресурси
Посібник
Методичні вказівки для лабораторного практикуму
Методичні вказівки для самостійної роботи студентів
Форум
Новини
Лекції
Технологія виробництва інтегральних мікросхем на підприємствах Intel
What is a Schottky Diode?
Лекції
Практична робота №1 Класифікація інтегральних мікросхем та система умовних позначень
Результати вимірювання
№1
№2
№3
№4
Практична робота №1
Завдання до підсумкового контролю №1
Підсумковий контроль №1
Лекції
Практична робота №2 Фізичні основи мікроелектронних пристроїв
Практична робота №2
Завдання до підсумкового контролю №2
Підсумковий контроль №2
Лекції
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметрів ІМС
Практична робота № 3
Завдання до підсумкового контролю №3
Підсумковий контроль №3
Лекції
Практична робота №4 Дослідження статичних параметрів логічних мікросхем ТТЛ і КМОН
Практична робота №4
Завдання до підсумкового контролю №4
Підсумковий контроль №4
Питання підсумкового контролю знань
Підсумковий контроль