Zum Hauptinhalt
Deutsch (de_old)
Русский (ru)
Українська (uk)
Deutsch (de_old)
English (de)
English (en)
Español - Internacional (es)
Français (fr)
Italiano (it)
Polski (pl)
Log In
Мікроелектронні прис ...
Kurse suchen
Kurse
Факультети, кафедри
Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю.М. По...
Кафедра електроніки, інформаційних систем та прогр...
Мікроелектронні пристрої
Змістовий модуль 1 – «Еволюція мікроелектронних пр...
Результати вимірювання
Результати вимірювання
Klicken Sie auf den Link '
Документ Microsoft Word.pdf
', um die Datei anzuzeigen
Previous Activity
Практична робота №1 Класифікація інтегральних мікросхем та система умовних позначень
Next Activity
№1
Direkt zu:
Direkt zu:
Силабус
Відомості про автора курсу
Презентація навчальної дисципліни
Опис навчальної дисципліни
Система накопичення балів
Інформаційні ресурси
Посібник
Методичні вказівки для лабораторного практикуму
Методичні вказівки для самостійної роботи студентів
Форум
Новини
Лекції
Технологія виробництва інтегральних мікросхем на підприємствах Intel
What is a Schottky Diode?
Лекції
Практична робота №1 Класифікація інтегральних мікросхем та система умовних позначень
№1
№2
№3
№4
Практична робота №1
Питання до проміжного контролю №1
Проміжний контроль №1
Лекції
Практична робота №2 Фізичні основи мікроелектронних пристроїв
Практична робота №2
Питання до проміжного контролю №2
Проміжний контроль №2
Лекції
Практична робота №3 Вимірювання статичних параметрів ІМС
Практична робота № 3
Питання до проміжного контролю №3
Проміжний контроль №3
Лекції
Практична робота №4 Дослідження статичних параметрів логічних мікросхем ТТЛ і КМОН
Практична робота №4
Питання підсумкового контролю знань
Підсумковий контроль